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產(chǎn)品簡介
智能冷熱沖擊試驗箱廠家直銷也被稱為冷熱試驗箱或溫度沖擊試驗箱，是一種重要的環(huán)境實驗設備，主要用于測試和評估產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下的性能和可靠性。
產(chǎn)品分類
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| 品牌 | ASLI/艾思荔 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,紡織/印染,航空航天,汽車及零部件 |
| 內(nèi)部尺寸 | 400-350-350 | 外部尺寸 | 1400-1800-1400 |
| 測試室溫度范圍 | -70~200度 | 高低溫暴露時間 | 30分鐘 |
| 內(nèi)外部材質(zhì) | 304不銹鋼 | 保溫材質(zhì) | 耐高溫高密度氯基甲酸泡沫絕緣材料 |
| 機械工作原理 | 微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng) |
智能冷熱沖擊試驗箱廠家直銷制冷壓縮機啟停控制溫度（溫度波動大、嚴重影響壓縮機壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制（導致制冷量與加熱相抵消實現(xiàn)溫度動態(tài)平衡，浪費了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過ASLI技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實現(xiàn)降低40%的能耗。
智能冷熱沖擊試驗箱廠家直銷規(guī)格/SPEC/要可按客戶要求訂制
| 型 號 | TS-42（A～C） | TS-80（A～C） | TS-150（A～C） | TS-252（A～C） | TS-450（A～C） |
| 內(nèi)部尺寸W×H×D(cm) | 40×35×30 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 80×75×75 |
| 外部尺寸W×H×D(cm) | 140×180×145 | 148×190×155 | 160×200×175 | 175×210×187 | 190×220×200 |
| 溫度范圍（測試區(qū)） | (150℃～A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃)；(高溫區(qū)：+60℃～+150℃；低溫區(qū)-10℃～-65℃) | ||||
| 升溫時間(蓄熱區(qū)) | RT～200℃約需35min | ||||
| 降溫時間(蓄冷區(qū)) | RT～-70℃約需85min | ||||
| 溫度回復時間／轉(zhuǎn)換時間 | ≤5min內(nèi) / ≤l0秒內(nèi) | ||||
| 溫度控制精度／分布精度 | ±0.5℃／±2.0℃ | ||||
| 保溫材質(zhì) | 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料 | ||||
| 系統(tǒng) | P．I．D + S．S．R + 微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng) | ||||
| 冷卻系統(tǒng) | 半密閉式雙段壓縮機(水冷式)／全密閉式雙段壓縮機(風冷式) | ||||
| 安全保護裝置 | 無熔絲開關(guān)、壓縮機高低壓保護開關(guān)，冷媒高壓保護開關(guān)、故障警告系統(tǒng)，電子警報器 | ||||
| 配 件 | 觀視窗(特殊選購型)、上下可調(diào)隔層兩片、通電測試孔、腳輪、水平支架 | ||||
| 電 源 | AC380V 50Hz／60Hz 3 ∮ | ||||
| 重量(大約 | 700Kg | 900Kg | l200Kg | 1400Kg | 1900Kg |
沖擊試驗箱特點:
采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡易.
設備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，各區(qū)之箱體釆之斷熱結(jié)構(gòu)。
沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。
高溫沖擊或低溫沖擊時，*大時間可達9999分鐘，*大循環(huán)周期可達9999次。
系統(tǒng)可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為風冷式或水冷式兩種。
可連接電腦，記錄儀僅為選購件。
彩色LCD液晶觸控式控制器的特點：
控制器的各項操作皆以人機觸控方式進行。
人性化的圖控介面讓使用者更容易使用及了解機械狀態(tài)。
提供及時線上說明，免除閱讀說明書的困擾。
超大溫度值顯示,提供*佳的顯示效果.
沖擊試驗箱滿足標準:
1.GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗A：低溫試驗方法；
2.GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗B：高溫試驗方法；
3.GB/T2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗》試驗Ca：恒定交變濕熱試驗方法。
4.GB2423.2-2006（IEC68-2-2）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法
5.GB/T2423.3-2006（IEC68-2-3）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
6.GB/T2423.4-93（IEC68-2-30）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Da:交變濕熱試驗方法
7.GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗方法
8.GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法
9.GJB150.9-1986《設備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》
10.GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗：恒定濕熱試驗》
11.GJB4.6-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗：交變濕熱試驗》
12.GJB367.2-1987《通信設備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》濕熱試驗
13.GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》
14.GB/T5170.5-96《濕度試驗設備》
15.GB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
16.GB/T10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》
17.GB/T10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》
18.GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》
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